基于投影法检测光学元件面形的图形处理算法

发布者：夏蒙杨     发布时间：2016-02-02     浏览次数：1542次

 

　　在光学仪器制造领域中，准确地检测和评定光学元件面形对提高光学元件加工表面的质量，研究光学元件表面的几何特性，探究光学元件的使用性能等都有着至关重要的意义。

　　基于线结构光扫描测量和立体视觉测量相结合的三维检测方法——投影法，能够快速准确地实现光学元件面形的在线检测，通过对采集图片的图像预处理，区域立体匹配分析，曲线拟合及实验等算法还原被测光学元件面形模型。实验结果表明，将这种方法用于检测光学元件可以真实还原光学元件三维外貌特性，具有实际应用价值。