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基于投影法检测光学元件面形的图形处理算法

发布者:夏蒙杨     发布时间:2016-02-02     浏览次数:1023次

 

  在光学仪器制造领域中,准确地检测和评定光学元件面形对提高光学元件加工表面的质量,研究光学元件表面的几何特性,探究光学元件的使用性能等都有着至关重要的意义。

  基于线结构光扫描测量和立体视觉测量相结合的三维检测方法——投影法,能够快速准确地实现光学元件面形的在线检测,通过对采集图片的图像预处理,区域立体匹配分析,曲线拟合及实验等算法还原被测光学元件面形模型。实验结果表明,将这种方法用于检测光学元件可以真实还原光学元件三维外貌特性,具有实际应用价值。

 

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